试题基础练习芯片测试

疑问

这题目我觉得做法不对，虽然AC了，但是感觉不对，这题坏芯片的结果是随机的，所以看一个芯片测试结果是不是1大于0的方法并不能判断好坏，一个坏芯片甚至可以测试结果和好芯片一模一样，因为是随机的嘛，如果这题目问的是好芯片最多有多少，那就难多了。

AC的代码就是统计一下那些1的个数大于0的个数的芯片就是好的

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main() {int n; cin >> n;int a[n][n], b[n]; memset(b,0,sizeof(b));   //memset是初始化数组的意思。for(int i = 0; i < n; i++) for(int j = 0; j < n; j++) scanf("%d", &a[i][j]);for(int i = 0; i < n; i++) for(int j = 0; j < n; j++) if(a[i][j] == 1) b[j]++;    //b数组统计该列出现“1”的次数。for(int i = 0; i < n; i++)if(b[i] > n/2) cout << i+1 << ' '; return 0;
}

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