为什么有的标签的实际性能和仿真不一样？—自调谐

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为什么有的标签的实际性能和仿真不一样？---自调谐
- 1、测试设备出问题了？
- 2、标签天线的原因？
- 3、芯片差异的原因？
- - 例如Impinj R6-P芯片：
  - 例如NXP U8芯片：

刚进入这个行业的时候，市面上已经有很多公版的天线了，为了了解这些天线的性能，我就用公司的芬兰voyantic专门测标签的设备，把公司有的所有种类的标签都测了一遍。

发现一个奇怪的现象：有的标签的读距性能图显示出了连续的三个波峰（图一）或者波峰光滑呈平顶或斜顶（图二），有的又没有这种现象（图三）。

图一

图二

图三

是什么原因呢？

问过公司的前辈、领导，他们以前都没注意这个情况，也不知道是什么原因。

不管它，倒是也不影响工作，就是心里梗了个刺一样。

那，自己找找原因看看。

1、测试设备出问题了？

领导给了我个设备厂家的研发工程师的联系方式。这个设备在整个行业里，都是权威级别的，测试结果是很有公信力的。

我问了设备厂家的研发工程师，他们那边不设计标签，研发测试的时候没有出现这个问题，只是在帮客户测试的时候见过这种类似的图。在工作范围内性能满足需求，不影响使用，也就没有研究原因。

设备是没有问题的，是我测试操作的问题？

我又把所有标签找了出来，每款多找几个样品，重新校准设备，全部又测了一遍。

测试结果和上次一样的，每一款的样品一致性很好，这个情况不是偶然了，不是个别现象。

2、标签天线的原因？

以前仿真的有源天线，也有多陷波天线，但不会出现贴的这么近的三个谐振点呀，而且三个波峰衔接处的地方也不平滑。

我测的标签天线是大多是呈长条状的偶极子天线，虽然是和芯片做的共轭匹配，可以做到在天线模式1的附近有两个匹配频率，但不会离这么近，更不会出现三个匹配频率。

确保万无一失，我还是挑了几个测试出三个波峰的标签，拿回去建模仿真，简单的复原一下，根据官方给出的芯片阻抗处理出回波损耗曲线。有的确实是有两个谐振频率，，但离得非常远，不可能出现测试图中情况。

3、芯片差异的原因？

设备和天线方面的原因都排除了，只剩下芯片了。

我把测出来有三个波峰的标签使用的芯片全部整理出来，都是那时候最新出的NXP U8 和Impinj R6-P。难道是新出的芯片有了新功能？

翻出芯片手册，确实发现了一个以前没有出现的功能：Impinj称为“Auto Tune”，NXP称为“Self Adjust”。

例如Impinj R6-P芯片：

Auto Tune 功能由RESERVED存储区的04h word控制是否禁用，在14h中可以查看Auto Tune的值。Auto Tune Value 共有以下5种。

按照图示的值，对仿真结果做一下处理。

芯片自调谐启用前

黑色虚线为芯片自调谐启用后

例如NXP U8芯片：

Self Adjust功能由配置字的207h控制是否禁用，在205h和206h中查看Self Adjust的值是否激活。Self Adjust 共有3种：-60ff，0ff，+100ff。

芯片自调谐启用前

黑色虚线为芯片自调谐启用后

结合上面的两个芯片自调谐启用后的图，都可以看出用黑色虚线表示的曲线，和我们前面的测试曲线的情况大致是符合的。
所以，可以得出确实是因为芯片的自调谐功能造成的标签的读距不呈现高斯分布。

Impinj 比NXP的自调谐值更多且tiaoxi调谐范围更广，所以峰值更加平稳。因为这些芯片有这个功能，所以，使用这种芯片设计的标签的带宽相比没有这个功能的标签大很多。
这功能算是标签芯片设计上的大亮点，能够使同款标签应用的领域更加广泛，所以这两家公司后面出的芯片大多都延续了该功能。

想更详细的了解芯片的自调谐功能，自行去芯片厂商官网查找芯片手册。

------- 完 -------

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