单片机晶振异常分析于测试

最近在一个项目当中使用的是STM32F407的芯片，晶振是使用的25M，当单板拿回来后简单的测量了电源参数，正常后给到软件工程师烧录程序，在烧录的过程中出现了关于晶振的问题，晶振问题折腾了几天也都解决了，通过这些现象也对晶振有了更深的认识。现将问题总结如下：
1）第一个问题现象是程序的预设定时器比计算的慢10倍。在确定单片机程序没有问题的情况下，我初步怀疑是晶振的问题，后更换了晶振解决了此问题
2）单片机的电源不稳定如有振荡等因素也会导致晶振不能正常工作，振荡波形失真，导致单片机烧录不了程序，单片机工作异常。

关于晶振的一些认识网上的资料有很多，但是关于晶振电路的测试参数基本没有，在这几天的测试当中，将晶振电路的测试数据总结如下：1）在单片机没有程序的情况下外部晶振是不起振的，此时的晶振的电压是1.3V左右（万用表测试），
2）单片机烧录好了程序晶振才能正常起振，输出25MHZ的正弦波（无源晶振），电压是在1.8V左右（万用表测试）我此次就是没有理解到晶振在单片机有程序和没有程序之间工作不同，导致，续的很多无用功，将此经验分享出来。希望对大家有帮助！

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