无源S参数2X-Thru去嵌方案

1、2X thru去嵌方式介绍

1.1、deembed简介

去嵌技术是高速、微波测量的重要技术之一,主要目的是消除寄生元件、部件对实际被测器件(DUT)的影响。

传统的 SOLT 校准，即短路 - 开路 - 负载 - 直通校准，SOLT 校准操作方便，测量准确度跟标准件的精度有很大关系，一般只适合于同轴环境测量； TRL(Thru, Reflect, Line)校准是准确度比 SOLT 校准更高的校准方式，尤其适合于非同轴环境测量，例如 PCB 上表贴器件，波导，夹具，片上晶圆测量。

但是，上述的校准夹具对于一般的用于来说，设计都有一定的难度和挑战性，而且对工艺、制作周期要求都比较严格。

2X thru是IEEE p370定义的一种比较简单高效的deembed方法，只需要一个Through线即可实现dembed，但是需要借助一定的数学运算。

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